SRM2944熒光光譜的相對強(qiáng)度校正紅色發(fā)射
簡要描述:SRM2944熒光光譜的相對強(qiáng)度校正紅色發(fā)射旨在用于評估和校準(zhǔn)具有連續(xù)激發(fā)源的穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀的相對光譜響應(yīng)度,并用于確定日常或儀器到儀器的強(qiáng)度變化單個或類似的熒光儀器
所屬分類:美國NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
更新時間:2022-03-28
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
品牌 | NIST/美國 | 貨號 | SRM2944熒光光譜的相對強(qiáng)度校正紅色發(fā)射 |
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規(guī)格 | (12.5 x 12.5 x 45)mm | 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
主要用途 | 旨在用于評估和校準(zhǔn)具有連續(xù)激發(fā)源的穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀的相對光譜響應(yīng)度,并用于確定日常 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工 |
SRM2944熒光光譜的相對強(qiáng)度校正紅色發(fā)射 旨在用于評估和校準(zhǔn)具有連續(xù)激發(fā)源的穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀的相對光譜響應(yīng)度,并用于確定日?;騼x器到儀器的強(qiáng)度變化單個或類似的熒光儀器, SRM 2944 的一個單元由一塊比色杯形的實(shí)心玻璃組成。樣品系列裝置的序列號介于 Bi0XX 和 Bi0YY 之間。該 SRM 已通過相對校正發(fā)射光譜 E 的認(rèn)證,以相對能量單位表示,發(fā)射波長 λEM = 530 nm 至 830 nm,波長間隔為 1 nm,固定激發(fā)波長 (λEX) 為 515.0 nm。由于峰值附近較大的信噪比水平,發(fā)射推薦從 λEM = 590 nm 到 805 nm 的范圍作為大多數(shù)儀器和應(yīng)用的*。請注意,本標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)證值在用于脈沖光源熒光光譜儀的光譜校正時成為參考值。
認(rèn)證值:
NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值,因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏碓炊家颜{(diào)查或考慮在內(nèi) [1]。每個發(fā)射波長的 E 和相應(yīng)總不確定度在 95 % 置信水平 U95 下的認(rèn)證值在表 1 和表 2. E 的計量溯源性是 NIST 光譜輻射度標(biāo)度,以相對能量單位表示。波長的計量溯源性為米的 SI 單位。
SRM2944熒光光譜的相對強(qiáng)度校正紅色發(fā)射 的定位應(yīng)使激發(fā)光束垂直并居中在一個拋光面上,并從與激發(fā)光束成 90 度角的相鄰拋光面收集發(fā)射。長磨砂面應(yīng)背對檢測系統(tǒng)。每個 SRM 的頂面都刻有自己的序列號,使用時應(yīng)朝上。磨砂面可以與正面或落射熒光幾何形狀一起使用,或者拋光面可以與上述不同的幾何形狀一起使用,但是在這些情況下,認(rèn)證值將成為參考值。表 1 和表 2 中的值在 25.0 °C ± 0.5 °C 下經(jīng)過認(rèn)證,激發(fā)帶寬 (ΔλEX) 為 3.0 nm,發(fā)射帶寬 (ΔλEM) 為 3.0 nm。