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美國NIST的 SRM 640f 硅粉（X射線衍射儀校正標準品）旨在通過粉末衍射法確定，校準X射線衍射線位置和線形。

SRM8988二氧化鈦粉末粒度分布標準品(NIST)旨在用于評估和校準用于測量 0.1 μm 至 0.5 μm 粒徑范圍內的粒徑分布 (PSD) 值的設備。

RM8983氮化硅粉末標準品(美國NIST)主要用作通過高溫燃燒法測定氮化硅粉末中的氮、氧和碳的分析標準

RM 8786 過濾器空白標準品(美國NIST)主要用于評估用于表征國家空氣質量監(jiān)測計劃的大氣細顆粒物 (PM) 碳成分的分析方法。

RM8785過濾介質空氣顆粒物標準品(美國NIST)主要用于評估用于表征國家空氣質量監(jiān)測計劃的大氣細顆粒物 (PM) 碳成分的分析方法。